Analysis and Experimental Test of Electrical Characteristics on Bonding Wire

نویسندگان
چکیده

برای دانلود باید عضویت طلایی داشته باشید

برای دانلود متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

The Quality Test of Wire Bonding

The reliability of the IC chip during performance of its function in any application is very much dependant on the quality of the wire bond interconnection. If the quality of the wire bond interconnection is poor and not consistent, it has a significant impact on the reliability and dependability of the device. The quality of a wire bond is determined by the strength of the interfaces between t...

متن کامل

effect of bataine and sulphate supplement on wool and milk characteristics and lambs performance in naine ewes

تعداد 20 رأس میش نژاد نائینی 6+-24 ماهه، با میانگین وزن 2/3-+40 کیلوگرم، همراه با 20 رأس بره های آنها در قالب طرح کاملا تصادفی اثر بتائین و مکمل سولفات بر خصوصیات شیر و پشم و عملکرد بره ها بررسی شد. میش ها بطور تصادفی در چهار تیمار قرار گرفتند. تیمارها عبارت بودند از: 1-گروه شاهد 2-بتائین (05/0 درصد ماده خشک) 3-سولفات (24/0 سولفور درصد ماده خشک 4-بتائین هرماه با سولفات. جیره غذائی طبق nrc با مح...

15 صفحه اول

Wire bonding using copper wire

Purpose – This paper attempts to review recent advances in wire bonding using copper wire. Design/methodology/approach – Dozens of journal and conference articles published recently are reviewed. Findings – The problems/challenges such as wire open and short tail defects, poor bondability for stitch/wedge bonds, oxidation of Cu wire, strainhardening effects, and stiff wire on weak support struc...

متن کامل

OF PACKAGE I / O LEAD ELECTRICAL PARASITICS FOR DIFFERENT PACKAGES Electrical Parameters Wire - bonding Package Type

This paper is concerned with the analysis and optimization of the ground bounce in digital CMOS circuits. First, an analytical method for calculating the ground bounce is presented. The proposed method relies on accurate models of the short-channel MOS device and the chip-package interface parasitics. Next the effect of ground bounce on the propagation delay and the optimum tapering factor of a...

متن کامل

Active Test Chips for in Situ Wire Bonding Process Characterisation

The real-time monitoring of an industrial ball bonding process is reported using a new type of test chips with custom-made integrated sensors (microsensors). These sensors were fabricated using a commercial double-metal CMOS process [1]. Two types of integrated monitors are reported, a temperature [2] and an ultrasound shear force sensor [3]. The temperature sensor uses the thermoelectric prope...

متن کامل

ذخیره در منابع من


  با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ژورنال

عنوان ژورنال: Electronics

سال: 2019

ISSN: 2079-9292

DOI: 10.3390/electronics8030365